固態(tài)硬盤(pán)RDT老化測(cè)試柜

     固態(tài)硬盤(pán)RDT老化測(cè)試柜是一種提供高溫環(huán)境的烘干設(shè)備。箱內(nèi)空氣封閉自循環(huán)。老化柜內(nèi)風(fēng)道為不銹鋼結(jié)構(gòu)。工作室內(nèi)溫度由溫控儀自動(dòng)控制，并有自動(dòng)恒溫及時(shí)間控制裝置，并附設(shè)有超溫自動(dòng)停電及報(bào)警電路，控制可靠，使用安全。固態(tài)硬盤(pán)RDT老化測(cè)試柜可滿足原生NVMe協(xié)議支持，兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

*產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

1.1 溫度范圍：R.T+10 ~ +70℃；

1.2 波 動(dòng) 度：±1.0℃；

1.3 溫度偏差：≤±3.0℃；(空載條件下)

1.4 老化柜內(nèi)尺寸：D660×W1930×H1450 ，深×寬×高mm；

1.5 老化柜外尺寸：D1000×W2490×H2160，深×寬×高mm；

1.6 升溫速度：≥2℃/min；（全程平均）

1.7 老化產(chǎn)品：原生NVMe協(xié)議支持，兼容U.2、M.2、SATA全部接口，單盤(pán)電流3.5A以上，一次性可老化960PCS產(chǎn)品。

1.8 整機(jī)功率：約27.00KW；

1.9 電   源：AC380V, 50Hz。